Paprastas grandinių testerio zondas - PCB gedimų ieškiklis

Šis paprastas grandinės testeris gali būti naudojamas trumpojo jungimo, nenormalių pasipriešinimo sąlygų, tęstinumas sulūžta ir tt sumontuotoje plokštėje arba PCB. Indikatorius bus rodomas per garsinį garsinį garsą arba LED apšvietimą. Visi aprašyti dizainai yra ypač saugūs naudoti net su PCB, kurie gali turėti labai jautrius ar pažeidžiamus elektroninius komponentus.

Pasyvus elektroninės grandinės PCB testavimas gali pasirodyti paprastas darbas. Viskas, ko jums reikia, yra omo matuoklis. Tačiau omų matuoklio naudojimas lentų patikrinimui puslaidininkiais paprastai nėra toks protingas sprendimas. Skaitiklio išėjimo srovės gali pakenkti puslaidininkių mazgams.

Pirmąją žemiau paaiškintą grandinę, kuri yra tranzistorius pagrįstas testeris, yra labai lengva sukurti ir ji turi gerą saugumo pranašumą, nes jos zondai bandomajai grandinei sukuria ne daugiau kaip 50 µA.

Todėl jis gali būti saugiai naudojamas daugumai standartinių IC ir puslaidininkių, tokių kaip MOS komponentai, trikčių šalinimui.

Testo rezultatų „indikatorius“ iš tikrųjų yra mažo garsiakalbio pavidalas, kad būtų užtikrinta, jog bandymo metu nebūtina nuolat nukreipti akis į bandymo prietaisą, o ne į plokštę.

Tranzistoriai T1 ir T2 veikia kaip pagrindinis įtampos valdomas žemo dažnio osciliatorius, kurio apkrova yra garsiakalbis. The osciliatorius dažnis priklauso nuo C1, R1, R4 ir matuojamos zondų išorinės varžinės apkrovos varžos vertės. Rezistorius R3 tampa T2 kolektoriaus varža. C2 veikia kaip R3 žemo dažnio atsiejimas.

Kaip paaiškinta anksčiau, testeris niekada nepakenks bandomai grandinei, tačiau, priešingai, gali būti svarbu įtraukti diodus D1 ir D2, kad įsitikintumėte, jog bandomos grandinės potencialas nepakenks testerio blokui.

Atsižvelgiant į tai, kad tarp bandymo zondų nėra jokios galios asociacijos, grandinė neketina srovės. Dėl to baterijos veikimo laikas gali būti beveik panašus į jo galiojimo laiką

Naudojant „Op Amp“

Kitas labai tikslus ir saugus grandinės plokštės testeris ir gedimų žymeklis aprašytas tolesniuose punktuose. Tai yra op amp pagrindu sukurta konstrukcija, kuri daro operaciją dar tikslesnę nei ankstesnė tranzistorizuota versija.

Kaip jau buvo aptarta, bandant grandinės jungties tęstinumą naudojant standartinį omometrą, dažnai yra rizika, kad bandymai atliekantys rezistoriai, puslaidininkiai ir kt. Gali sukelti klaidingus rodmenis. Be to, skaitiklio srovė arba įtampa kartais gali sunaikinti grandinės dalis.

Naudojant šią grandinės testerio veikimo principą, pagrįstą aukščiau, visi šie trūkumai yra saugiai pašalinti.

Tikrintuvas sukuria ne didesnį kaip 1 omų pasipriešinimą zondams, kai zondai atsitinka sujungdami du taškus per plokštę.

Be to, kadangi tetserio naudojama įtampa vargu ar yra 2 mV, tai reiškia, kad bandymo metu į rezultatus neįtraukiamas joks diodas, IC ar bet koks kitas pažeidžiamas komponentas. Didžiausias srovės stipris, kuris gali pasirodyti bandomose plokštėse esančiuose bandomuosiuose zonduose, bus 200 pA, o tai atrodo per kuklu, kad bandomam PCB kiltų kokių nors problemų. Testo rezultatas rodomas per šviesos diodą.

Jei įrenginys sukonstruotas taip, kad tilptų į tušinuką, pavyzdžiui, gaubtą, jis gali tapti labai patogus ir visas įrenginys gali būti naudojamas kaip vienas iš zondų, o kiti zondai yra pritvirtinti kitoje lentos vietoje.

Vienas trūkumas yra dviejų 9 V elementų, kaip įrenginio maitinimo šaltinio, reikalavimas.

Parodytas išankstinis nustatymas naudojamas koreguoti išvesties poslinkį. Vartotojas turės sureguliuoti iš anksto nustatytą P1 taip, kad šviesos diodas tiesiog užsidegtų, kai trumpas zondų galas. Ir atvirkščiai, atidarius zondus, šviesos diodas turi iškart išsijungti. Tai nustatys grandinę apšviesti šviesos diodą tik tada, kai zondai susiduria su beveik trumpa panašia bandomo PB sąlyga.

Šiam mažam mažam PCB testeriui sukurta labai kompaktiška ir aptaki PCB, kurią galima ištirti pagal šias diagramas.